Небольшое описание всех тестов:
Test 0 [Address test, walking ones, no cache] – тест для определения проблем с адресацией памяти.
Test 1 [Address test, own address] – более углубленный тест для определения проблем с адресацией памяти
Test 2 [Moving inversions, ones&zeros] - быстрая проверка на аппаратные или трудноуловимые ошибки.
Test 3 [Moving inversions, 8 bit pat] - тоже самое, только используется 8 битный алгоритм прохода нулей и единиц (не волнуйтесь, автор понял не больше вашего). Использует 20 схем для теста
Test 4 [Moving inversions, random pattern] - этот тест особенно эффективен для выявления проблем с data sensitive. Использует 60 схем для теста
Test 5 [Block move, 64 moves] – тест для поиска проблем в схемах памяти.
Test 6 [Moving inversions, 32 bit pat] - эффективен для определения data sensitive errors. Очень долгий тест.
Test 7 [Random number sequence] - тест, проверяющий ошибки записи памяти.
Test 8 [Modulo 20, ones&zeros] - тест для определения скрытых ошибок при помощи кеша и буферизации, которые не выявили предыдущие тесты.
Test 9 [Bit fade test, 90 min, 2 patterns] - особый тест, который можно запустить вручную. Запоминает адреса в памяти, после чего засыпает на полтора часа. После этого проверяет не изменились ли биты в адресах. Требует 3 часа для прохождения и ручного запуска через меню конфигурации (клавиша с).
/источник/
